Utvikling og test av kraftelektronikk

I begynnelsen av mai samler Rohde & Schwarz ledende eksperter fra industri og akademia til en gratis, digital konferanse om målinger, design og validering av moderne kraftelektronikk.

Rohde & Schwarz arrangerer 5.–6. mai den digitale konferansen Power Electronics Online Conference – From Design to Validation. Arrangementet retter seg mot utviklingsingeniører, testingeniører og teknologiledere som arbeider med kraftelektronikkbaserte systemer – fra diskrete komponenter til nettilkoblede omformere og kraftige industrielle applikasjoner.

Bakgrunnen for konferansen er et marked preget av stadig strengere krav til energieffektivitet, høyere effekttetthet og økt integrasjon mot kraftnettet. Samtidig stilles det større krav til pålitelighet, elektromagnetisk kompatibilitet (EMC) og dokumentasjon. Konferansen setter derfor søkelys på hvordan moderne måle- og valideringsmetoder kan bidra til robust design og raskere utviklingsløp.

Tungt faglig program

Konferansen åpnes 5. mai med en keynote-foredrag av Tobias Keller fra Hitachi Energy. Han vil ta for seg hvordan kraft­halvledere former fremtidens strømnett, med spesiell vekt på ytelse og langsiktig pålitelighet. Presentasjonen ser blant annet på kvalifisering av silisium- og silisiumkarbid-komponenter (SiC) for høyspente nettapplikasjoner, inkludert termisk aldring, kortslutningsrobusthet og levetidsdata.

Dag to innledes med et keynote-innlegg fra Veit Hellwig i Infineon Technologies, som vil belyse hvordan galliumnitrid-teknologi (GaN) påvirker utviklingen av høyspente motorinvertere og nye topologier.

Målinger, EMC og samsvarstesting

I tillegg til keynote-foredragene byr programmet på en rekke tekniske sesjoner. Blant annet presenteres metoder for karakterisering av passive komponenter ved svært høye frekvenser, der parasittiske induktanser og kapasiteter kan ha stor innvirkning på stabilitet og ytelse i omformere.

Andre sesjoner tar for seg automatisert dynamisk karakterisering av SiC- og GaN-komponenter, der doble puls-tester kombineres med høyhastighets digitaliseringsenheter for å redusere måleusikkerhet og analysere raske transienter.

Elektromagnetisk kompatibilitet er også et sentralt tema. To egne foredrag omhandler henholdsvis bruk av nærfeltsprober for å lokalisere støykilder og en fullstendig arbeidsflyt for måling av ledet støy ved hjelp av LISN og moderne oscilloskoper. Det presenteres også metoder for filterdesign basert på tids-frekvensanalyse.

Fokus på effektivitet og standarder

Konferansen dekker også nøyaktig effektivitetsmåling i strømforsyninger for datasentre og KI-servere, et område der korrekte målinger er avgjørende for blant annet 80 PLUS-sertifisering. Videre behandles harmonisk strøm, spenningsflimmer og samsvar med relevante IEC- og EN-standarder for nettilkoblede produkter, med demonstrasjon av automatisert samsvarstesting fra tidlig prototypfase til endelig typegodkjenning.

Gratis deltakelse

Blant foredragsholderne er eksperter fra Rohde & Schwarz, Hitachi Energy, Infineon, PE-Systems, Würth Elektronik samt universitetene i Bremen og Zaragoza. Ifølge arrangøren kombinerer programmet akademisk innsikt med praktisk ingeniørerfaring.

Deltakelse på konferansen er gratis, men krever registrering. Fullt program og påmelding er tilgjengelig på Rohde & Schwarz’ nettsider.