Test & Måling:

Guide for hipot-testing med reed-reléer

Ny applikasjonsguide fra Pickering beskriver hvordan HV-reed-reléer er egnet for hipot-testing for å verifisere effektiviteten til isolasjon i elektriske produkter og systemer.

Publisert

Pickering Electronics gjør nå tilgjengelig en ny guide i sin serie med pedagogiske applikasjonsguider – denne for ingeniører som bygger testsystemer for å utføre elektrisk sikkerhetstesting med høyt potensiale – såkalt hipot-testing – for å verifisere effektiviteten til isolasjon i elektriske produkter og systemer, med tittelen: «High Potential Testing: Achieve Accurate, Reliable Dielectric Testing with Reed Relay Technology».

– Denne omfattende applikasjonsveiledningen, skrevet av eksperter, skisserer den viktige rollen isolasjon spiller i sikre elektriske produkter og systemer – samt viktigheten av hipot-testing for å verifisere isolasjonens effektivitet og sikre dens integritet, uttaler Robert King, produktsjef for Reed-reléer hos Pickering Electronics.

– Og den forklarer videre hvorfor høyspennings-reed-releer er ideelle for bruk i hipot-testutstyr/-stasjoner som brukes til å bestemme dielektriske gjennomslagsspenninger og verifisere dielektriske motstandsspenninger – der deres kompakte formfaktor, høye pålitelighet og iboende svært lave lekkasjestrøm betyr at de overgår EMRer (elektromekaniske reléer) og SSR-er (solid-state-releer), hevder han.

Hipot-testing inkluderer to relaterte metoder: Dielektrisk gjennomslagstesting, som øker spenningen inntil den ikke når opp til sanne grenser; og dielektrisk motstandstesting (hipot), som anvender en definert overspenning og bekrefter at lekkasjen holder seg innenfor sikre grenser. Begge krever nøyaktig måling av lav strøm når man anvender høy spenning, og begge påvirkes av reelle isolasjonsvalg og aldringsfaktorer som temperatur, fuktighet, støv, kjemikalier, bøying og termisk sykling.

Lekkasjestrømmer i elektromekaniske reléer (EMRer) og solid-state-reléer (SSRer) stiger raskt når spenningen øker, og når ofte mikroampereområdet. Reed-reléer opprettholder derimot lekkasje i sub-nanoampere-området selv på kilovoltnivåer. Denne stabiliteten er avgjørende for å produsere pålitelige hipot-testresultater på tvers av dielektriske motstands- og gjennombruddsmetoder.

Denne applikasjonsveiledningen forklarer ikke bare teorien bak dielektrisk testing, men gir også praktisk innsikt i hvordan reed-releer kan forbedre testnøyaktigheten, redusere lekkasje og gi langsiktig pålitelighet. Du kan laste ned den gratis veiledningen her (ekstern lenke).

 

 

Powered by Labrador CMS