Boundary-scan kontroller
JTAG Technologies kommer nå med en utvidelse av sin serie med boundary-scan IEEE Std. 1149.1 kontrollere.
Denne artikkelen er 2 år eller eldre
Under navnet DataBlaster JT 37x7/PXIe tilbyr den nye enheten støtte for det stadig mer populære PXIe/Compact PCI-express portformatet som man nå finner i det nyeste automatiske testutstyret (ATE) basert på PXI(e) standardene.
Kontrolleren skal være utviklet for å henge med i de økende kravene til høyhastighets In-System Programming (ISP) for flashminner, serieminner og CPLDer, såvel som kompleks digital kretstesting. Det nye produktet skal tilby robuste testklokkehastigheter på opp til 40MHz ved bruk av JTAG Technologies’ egne ETT (Enhanced Throughput Technology) system og har et innebygd bufferminne for flashimage.
Det nye DataBlaster/PXIe leveres med det utfyllende QuadPOD systemet, og tilbyr fire synkroniserte TAPs (Test Access Ports) som er i stand til å støtte multi-TAP testmål (UUT) eller samleprogrammering av fire enkle TAP mål. QuadPOD kan også huse hele spekteret av JTAG Technologies’ SCIL moduler, og dermed tillate brukeren å implementere kundespesifiserte testgrensesnitt (BDM, I2C etc..) eller mikset-signal DAF (Digital, Analog Frequency) målemodul.
