IEEE publiserer ny teststandard
En ny, men også en utvidelse av IEEEs JTAG-standard er nå publisert. Den gjelder både test og avlusing og skal være mer i tiden sammenlignet med IEEE 1149.1 som har eksistert et par tiår.
Denne artikkelen er 2 år eller eldre
Den nye utvidelsen, IEEE 1149.7, er gjort for å utvide og forbedre JTAG-funksjonalitetene, som gjennom IEEE 1149.1 nå har eksistert i mer enn 20 år. Den nye versjonen er laget for å spare kostnader og plass, samtidig som den skal ta vare på eksisterende løsninger.
Forbedringer er gjort på avlusing (debug) og kraftbegrensninger i SoC-arkitekturer. Det er altså ikke en erstatning av JTAG-standarden og kompatibiliteten skal være sikret bakover.
Standarden er utviklet av en arbeidsgruppe i IEEE ledet av Texas Instruments.
IEEEs annonsering kan leses her.
Ytterligere informasjon om standarden hos TI`s wiki-side
