Nordisk Testforum i Tallinn
I disse dager går Nordisk Testforum ut med call for papers for arrangementet som denne gang blir holdt i Tallin, Estonia.
Denne artikkelen er 2 år eller eldre
Todagersarrangementet er det niende i serien og oppfattes som et av de viktigste konferansen for test-profesjonelle i Norden og Baltikum.
Nå inviteres det til holde presentasjoner og levere tekniske ”papers”, og temaene er mange. Som de sier, tema inkluderer disse (under), men er ikke begrenset av dem så lenge det handler om elektronisk test:
• Embedded Test
• Functional test
• AOI / AXI
• Test economics
• ICT / Flying Probe
• Boundary scan test
• Preventive test / Prognostics
• Best practices in manufacturing test
• ASIC: BIST / Mixed-signal / IDDQ / IDDT • Board test SW, BIST, diagnostics
• Testing Lead Free Electronics
• Design to Test transfer / Design for Testing
• Data acquisition / collection / analysis
• ESD
• Test efficiency and optimization
• Future technology trends and test challenges
• Data acquisition / collection / analysis
Som man skjønner forventes det at presentasjonene gjøres på engelsk.
Det blir også en liten utstilling i sammenheng med konferansen, i tillegg til at det den 24. november vil bli holdt årsmøte.
