Test & Måling:

Termoelektrisk kjøler for testutstyr

Termoelektrisk kjøler tåler over 200.000 temperatursykluser, egnet for f.eks. sluttesting av optiske transceivere og test- og burn-in-sokler for halvledere.

Publisert Sist oppdatert

Tark Thermal Solutions lanserer PCX-DG, en serie termoelektriske kjølere (TEC) utviklet for testutstyr som utsettes for raske og gjentatte vekslinger mellom oppvarming og kjøling. Typiske bruksområder er sluttesting av optiske transceivere og test- og burn-in-sokler for halvledere.

Det sentrale konstruksjonsgrepet er fleksible, termisk ledende bindingslag på begge sider av TEC-modulen. «DG» står for «double glue». I motsetning til konvensjonelle løsninger med stive loddeforbindelser skal konstruksjonen kunne gi litt etter når materialene ekspanderer og trekker seg sammen under temperatursykling. Dermed reduseres den mekaniske belastningen som kan føre til sprekker, delaminering og deformasjon.

Ifølge produsenten er PCX-DG validert i halvledertestapplikasjoner for mer enn 200.000 effektsykluser uten ytelsesreduksjon, avhengig av modulens formfaktor. Serien har maksimal driftstemperatur på 120 °C og tilbys i flere dimensjoner for ulike varmebelastninger og pakkeløsninger.

Et viktig bruksområde er testhoder for optiske QSFP-DD-, OSFP- og CFP2-transceivere. Her må kjøleren håndtere både kontinuerlig varme fra modulen og raske temperaturskift mellom kalde, omgivelses- og varme testpunkter. Tilsvarende belastninger oppstår ved burn-in og sluttesting av halvledere.

PCX-DG bygger videre på material- og modulteknologien i selskapets eksisterende PowerCycling PCX-serie og er spesielt rettet mot applikasjoner med høy strøm, høy varmeflukstetthet og hyppig temperatursykling.

 

Powered by Labrador CMS