Halvledertest på PXI
National Instruments med ti nye PXI-produkter som utvider mulighetene for halvledertesting, innen både DC, digitalteknikk, RF og svitsjing.
Det nye settet med testprodukter basert på PXI-standarden skal bl.a. redusere kostnadene ved test av miksetsignal halvledere, og utvide mulighetene som ligger i PXI.
Det er snakk om progamvaredefinerte produkter som er optimalisert for bruk med det grafiske designprogrammet LabView. Lanseringen omfatter fire høyhastighets digitale I/O (HSDIO) instrumenter, to digitale svitsjer, to forbedrede RF-instrumenter, e presisjonskildemålingsenhet (SMU) og en spesialisert digital vektorimporteringsprogramvare.
Det nye NI PXI Semiconductor Suite har fått flere nye funksjoner, bl.a. 200 MHz enkelttrådet digital I/O, 10 pA strømoppløsning raske multinbånd RF-målinger, DC/digital svitsjing og filimporteringsmuligheter for Waveform Generation Language (WGL) og IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL).
Med de nye utvidelsene har man fått et omfattende testsett for vanlige halvlederkomponenter, slik som AD- og DA-omformere, kraftstyringskretser, trådløse kretser og mikroelektromekaniske systemer (MEMS).
Mer om de ti nye produktene kan du lese her.
Tips en venn